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    OWT-200平整度測試系統(tǒng),采用光學方法測量晶圓、藍寶石、Sic、Si、玻璃等材質(zhì)的表面特征,在無需任何接觸的情況下測量厚度、TTV、LTV、彎曲度、平整度等,可在線和離線測量。
 
產(chǎn)品特點:
 ■厚度、TTV、LTV、翹曲度、彎曲度、平坦度測量;
 ■無接觸測量;
 ■無需校準;
 ■高精度、高重復(fù)性;
 ■樣品臺可選:4寸、6寸、8寸;
 ■強大的分析軟件,可顯示3D表面形貌;
 ■同時進行各種參數(shù)的測量,具備超高的測試速度;
 
技術(shù)參數(shù):
 ■TTV
     ■精確度:±0.1um
     ■重復(fù)性精度:0.01um
 ■厚度
     ■精確度:±0.2um
     ■重復(fù)性精度:0.1um
     ■測試范圍:50-2000um
 ■翹曲度/彎曲度
     ■精確度:0.5um
     ■重復(fù)性精度:0.2um
     ■測試范圍:200um
 ■整機參數(shù)
     ■測量時間:<100秒
     ■最大測量尺寸:8寸
     ■尺寸:550*602*291mm
     ■整機功率:800W
 
典型客戶:
藍寶石、碳化硅、石英玻璃等透明或半透明晶片企業(yè)等。