我們的使命是創(chuàng)新無(wú)接觸測(cè)試技術(shù)和方法，設(shè)計(jì)生產(chǎn)銷售高質(zhì)量的獨(dú)特的測(cè)試系統(tǒng)，以不斷提升半導(dǎo)體行業(yè)和太陽(yáng)能行業(yè)的質(zhì)量與效率，堅(jiān)持不渝地為用戶生產(chǎn)力提升提供有力支持。













 
　　在線PL模塊，每小時(shí)3600片的測(cè)試速度，缺陷百分比和雜質(zhì)百分比分析、電池片轉(zhuǎn)換效率預(yù)測(cè)，無(wú)縫對(duì)接
分選系統(tǒng)。



 

　　全工藝檢測(cè)，經(jīng)過(guò)準(zhǔn)確分析，滾輪的damage影響到之后所有的環(huán)節(jié)，并最終影響到cell效率。



 
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　隱裂檢測(cè)



 

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　雜質(zhì)污染


 


 

　　　　　　　　　　　　準(zhǔn)確對(duì)類單晶片進(jìn)行檢測(cè)，圖中樣品無(wú)異常






　　PL-03 dark edge+defect area = 36.6% of the surface，PL-53 dark edge+defect area = 17% of the surface雜質(zhì)
和位錯(cuò)密度很高的邊緣，嚴(yán)重減低的發(fā)電效率。


 





 

　　　黑心片檢測(cè)，檢測(cè)速度可達(dá)5000片/小時(shí)。




 

　　電池裂紋檢測(cè)功能，能無(wú)接觸且快速的識(shí)別電池片裂紋、針孔、晶界檢測(cè)的差異。



 
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　　　　　　　　　　　　　電池片轉(zhuǎn)換效率預(yù)測(cè)和實(shí)際效率對(duì)比情況